一项新技术精确定位了电子产品中纳米级的“热点”，从而延长了它们的寿命_健康动态

NOBEL NOD: Materials science PhD student Benjamin Harrington uses a wire bonder to add electrical connections to an electrical heater structure. The structure was designed as a test subject for a new heat mapping technique that leverages Nobel Prize in Chemistry–winning optical super-resolution fluorescence microscopy techniques

　　当像笔记本电脑或智能手机这样的电子设备过热时，它们就会遇到纳米级的传热问题。找出问题的根源就像大海捞针。

　　“我们现代电子产品的基石是具有纳米级特征的晶体管，因此要了解哪些部分过热，第一步是获得详细的温度图，”罗切斯特大学机械工程系助理教授、激光能量学实验室的科学家安德里亚·皮克尔(Andrea Pickel)说。“但你需要纳米级分辨率的东西来做到这一点。”

　　现有的光学测温技术是不切实际的，因为它们在空间分辨率上有基本的限制。在一项新的《科学进展》研究中，研究人员概述了他们使用发光纳米粒子绘制传热图的过程。

　　通过将高度掺杂的上转换纳米颗粒应用到器件表面，研究人员在10毫米外实现了纳米级的超高分辨率测温。根据Pickel的说法，在超分辨率显微镜的世界里，这个距离是非常远的，而他们用于灵感的生物成像技术通常不到一毫米。

　　皮克尔说，虽然生物成像技术提供了巨大的灵感，但将它们应用到电子产品上有很大的障碍，因为它们涉及到如此不同的材料。

　　她说:“我们的要求与生物学家非常不同，因为他们研究的是细胞和水基材料。”“通常，他们可能会在物镜和样品之间有水或油之类的液体。这对生物成像来说很好，但如果你使用的是电子设备，那就不是你想要的了。”

DOWN TO THE WIRE: Rochester researchers demonstrated their super-high resolution thermometry techniques on an electrical heater structure that the team designed to produce sharp temperature gradients.